专利名称：MEMS器件的制造方法专利类型：发明专利
发明人：张振兴,奚裴,熊磊,王健鹏,时廷申请号：CN201410097373.5申请日：20140317公开号：CN103832968A公开日：20140604
摘要：本发明提供了一种MEMS器件的制造方法，包括：提供一衬底；在所述衬底上形成氮化钽层；在所述氮化钽层上形成介质抗反射层；在所述介质抗反射层上涂布光刻胶并对所述介质抗反射层和氮化钽层进行刻蚀，形成沟槽；对形成有所述沟槽的MEMS器件执行加强的灰化和湿法清洗工艺。在本发明提供的MEMS器件的制造方法中，通过在氮化钽层上形成介质抗反射层用以隔离氮化钽层，所述介质抗反射层能够防止氮化钽层在加强的灰化工艺中与光刻胶发生反应生成含钽类聚合物，从而避免因含钽类聚合物覆盖而产生光刻胶或BRAC残留物，同时，能够在加强的灰化工艺中保持沟槽宽度。
申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
地址：201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
国籍：CN
代理机构：上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：郑玮
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