专利名称：一种热老化测试装置专利类型：实用新型专利发明人：马怡平
申请号：CN201620366329.4申请日：20160427公开号：CN205809235U公开日：20161214
摘要：本实用新型提供了一种热老化测试装置，包括测试箱和进料装置，测试箱设有液晶显示器和摄像头，测试箱两侧下端设有加热装置和风机，测试箱内设有多组电源卡槽，每组电源卡槽两侧的测试箱内壁上设有进风口，测试箱顶端设有出风口；进料装置包括进料车和测试板，进料车上安装有固定架，固定架上设有多个固定位；固定架后端设有电源接头，固定位设有电源接口，固定架后端的电源接口与固定位上的电源接头相连；所述测试板安装在固定位上，测试板与电源接口连接，测试板设有多个插槽。本实用新型设计合理，操作简单，测试过程快速，测试数量大运输速度快，采用了智能加热降温，节省时间；可以实现在测试元件的同时进行实时观察。
申请人：杭州华扬电子有限公司
地址：310011 浙江省杭州市钱江经济开发区龙船坞路106号杭州华扬电子有限公司
国籍：CN
代理机构：杭州天欣专利事务所(普通合伙)
代理人：董力平
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