为什么软件计算的能隙值小于实验值

来源：智榕旅游

多种因素。实验中测量能隙的方法受到多种因素的影响，如温度、材料制备工艺、测量设备等。而计算方法中，采用的计算模型、计算参数等因素也会影响计算结果。此外，半导体材料的结构、晶格等因素也会对能隙大小产生影响，这些因素在实验和计算中都存在差异，导致能隙值的偏差。

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